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半导体级专用姆合金制备方法 

申请/专利权人:宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司

申请日:2024-04-30

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118207629A

主分类号:C30B29/52

分类号:C30B29/52;C30B15/14;C30B15/20

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.18#公开

摘要:本发明提供半导体级专用姆合金制备方法,涉及半导体级姆合金硅制备的技术领域,通过使用使用高纯热场拉制电阻面内分布均匀晶棒,再将晶棒切割成预定厚度的样片,将样片进行倒角、研磨、腐蚀、ML贴附、ML研磨、ML电阻測定、外观检查,得到姆合金;以在高纯热场下拉制晶棒使得晶棒内的金属含量低,然后控制样片厚度,对样品进行后续处理,降低杂质含量,使得制成的姆合金纯度高,进而姆合金拉制的产品的体金属稳定,电阻分布均匀,不同批次的电阻率均匀,电阻打靶的准确率提高。

主权项:1.一种半导体级专用姆合金制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:使用高纯热场拉制电阻面内分布均匀晶棒,以降低晶棒的金属含量;S2:将晶棒切割成预定厚度的样片;S3:将样片进行倒角、研磨、腐蚀、ML贴附、ML研磨、ML电阻测定、外观检查,得到姆合金,以提高姆合金的纯度。

全文数据:

权利要求:

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