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【发明授权】一种半球谐振陀螺的谐振子去重调平和平面度检测方法_四川图林科技有限责任公司_202410451230.3 

申请/专利权人:四川图林科技有限责任公司

申请日:2024-04-16

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118049979B

主分类号:G01C19/5691

分类号:G01C19/5691;G01C19/5783;G01C25/00;G01B11/30

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.18#授权;2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要:本申请涉及陀螺仪技术领域,具体是指一种半球谐振陀螺的谐振子去重调平和平面度检测方法,包括以下步骤:步骤1,进行固有轴测试及一次频差测试;步骤2,步骤1完成后进行四次谐波调平;步骤3,步骤2完成后进行二次频差测试,步骤4,满足频差测试结果的谐振子进行一、二、三次谐波调平;步骤5,步骤4完成后进行三次频差测试,满足频差测试结果的谐振子结束检测;本申请通过引入平面度检测模型在谐振子进行阶次谐波调平时对谐振子的表面数据进行同步检测,在谐波调平过程中同步进行平面度检测允许更精确地识别出需要调整的区域,这种方法可以实时监控谐振子的表面状况,及时调整去重或加重的位置和量,使调平更加精细和精确。

主权项:1.一种半球谐振陀螺的谐振子去重调平和平面度检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1,进行固有轴测试及一次频差测试;步骤2,步骤1完成后进行四次谐波调平;步骤3,步骤2完成后进行二次频差测试,不满足频差测试结果的谐振子重复进行步骤1与步骤2直至满足频差测试结果,满足频差测试结果的谐振子进行下一步骤;步骤4,满足频差测试结果的谐振子进行一、二、三次谐波调平;步骤5,步骤4完成后进行三次频差测试,不满足频差测试结果的谐振子重复进行步骤1,满足频差测试结果的谐振子结束检测;其中,步骤2与步骤4进行过程中,通过平面度检测模型拟合输出面轮廓误差,步骤2进行四次谐波调平时,在面轮廓误差所在的加工区域内进行调平,步骤4进行一、二、三次谐波调平时,在面轮廓误差所在的加工区域内进行调平,步骤5完成后,将满足频差测试结果的谐振子的曲面数据作为平面度检测数据;步骤2与步骤4进行过程中,在谐振子表面设置有多个测点,设第i个测点为,经坐标变换后表示为,坐标变换过程满足:,其中,和分别为和经过齐次坐标变换后的矩阵,n为测量点的个数,为测点坐标变换矩阵,、、分别为测量坐标系中第i个测点的坐标,、、分别为第i个测点经坐标变换后的坐标;所述平面度检测模型的描述为:,式中, 为第i个测点经坐标变换后到理想曲面的最小距离; 、、分别是测点沿X、Y、Z轴的距离; 、、分别是测点绕测量坐标系转动的角度; 为理想曲面到实际曲面的偏置距离;其中,理想曲面为通过谐振子设计尺寸公差带得到的理想面,实际曲面为检测前谐振子的实际面。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 四川图林科技有限责任公司 一种半球谐振陀螺的谐振子去重调平和平面度检测方法

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