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申请/专利权人：中国航发北京航空材料研究院
申请日：2022-02-18
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN114719805B
主分类号：G01B21/08
分类号：G01B21/08
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权;2022.07.26#实质审查的生效;2022.07.08#公开
摘要：本发明是一种测量叶片热障涂层厚度的方法及装置，该装置以闪光灯激励红外热像法作为基本检测方法，通过由探测装置转台、Z轴、叶片旋转台和XY轴平移台等5轴组成5轴联动系统，实现对具有复杂曲面的叶片进行扫查检测，通过基于降温曲线e指数衰减系数与热障涂层厚度的函数关系计算待测点处的热障涂层厚度，从而实现自动测厚。
主权项：1.一种测量叶片热障涂层厚度的方法，其特征在于：该方法的步骤如下：步骤一、制作一系列不同热障涂层厚度的试片，然后按下式1的e指数函数拟合出每片试片的降温曲线；y＝a1+a2exp-a3x式1步骤二、对各个试片进行破坏性观测，得到检测点处的实际厚度值，然后按下式2的e指数函数拟合出系数a3与不同厚度的对应关系，将该系数a3定义为e指数衰减系数；fx＝a×expbx式2式中：fx为热障涂层厚度值，取值范围为60-100微米，x为a3，a和b为系数；步骤三、对制备有热障涂层的待测试片进行测量并按上述式1的e指数函数拟合出待测试片的降温曲线，计算其中的e指数衰减系数a3值，将该e指数衰减系数a3值代入上述式2中计算出待测试片的热障涂层厚度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国航发北京航空材料研究院 一种测量叶片热障涂层厚度的方法及装置
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