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申请/专利权人：北京亿华通科技股份有限公司
申请日：2024-03-21
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225847A
主分类号：G01N27/04
分类号：G01N27/04;G01N27/333
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明提供了一种膜电极质子交换膜质子电导率测试系统，系统包括：待测试组件，包括至少一组膜电极组件，膜电极组件包括第一膜电极，位于第一膜电极两侧的第一活性层与第二活性层；其中第一膜电极包括第一质子膜，位于第一质子膜一侧的第一导体，位于第二质子膜一侧的第二导体；导线组件，与第一导体和第二导体连接。本发明实施例提供的方法可以通过一次测试直接得到质子交换膜质子纵向的质子电导率，测试结果准确率高。
主权项：1.一种膜电极质子交换膜质子电导率测试系统，其特征在于，所述系统包括：待测试组件，包括至少一组膜电极组件，所述膜电极组件包括第一膜电极，位于所述第一膜电极两侧的第一活性层与第二活性层；其中第一膜电极包括第一质子膜，位于所述第一质子膜一侧的第一导体，位于所述第一质子膜一侧的第二导体；导线组件，与所述第一导体和所述第二导体连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京亿华通科技股份有限公司 膜电极质子交换膜质子电导率测试方法
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