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申请/专利权人：北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日：2024-04-22
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118229948A
主分类号：G06V10/22
分类号：G06V10/22;G06V10/44;G06V20/70;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本申请涉及人工智能技术领域，具体提供一种仪表盘读数方法、计算机可读存储介质及电子设备，旨在解决现有技术在仪表盘倾斜情况下无法自动、精确的读数的问题。为此目的，本申请的仪表盘读数方法包括：通过获取包含指示标识、多个参考刻度线和多个参考刻度值的仪表盘的图像；基于图像利用第一神经网络模型得到指示标识的第一位置信息和两个特征刻度的第二位置信息；特征刻度为多个参考刻度线中与指示标识相邻的两个参考刻度线；至少基于多个参考刻度值，获取两个特征刻度的刻度值；基于第一位置信息和两个特征刻度的第二位置信息以及刻度值，确定仪表盘的读数。可以解决倾斜情况下无法自动、准确地确定仪表盘读数的问题，有利于提高读数准确度。
主权项：1.一种仪表盘读数方法，其特征在于，包括：获取仪表盘的图像；所述图像包括所述仪表盘的指示标识、多个参考刻度线和多个参考刻度值；所述多个参考刻度线用于标识不同的量程区间；基于所述图像利用第一神经网络模型得到所述指示标识的第一位置信息和两个特征刻度的第二位置信息；特征刻度为所述多个参考刻度线中与所述指示标识相邻的两个参考刻度线；至少基于所述多个参考刻度值，获取所述两个特征刻度的刻度值；基于所述第一位置信息和所述两个特征刻度的第二位置信息以及刻度值，确定所述仪表盘的读数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司 一种仪表盘读数方法、计算机可读存储介质及电子设备
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