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申请/专利权人：嘉兴熠泰电子科技有限公司
申请日：2024-03-01
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225569A
主分类号：G01N3/08
分类号：G01N3/08;G01N3/18;G01N3/02
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了键盘薄膜开关测试装置及测试方法，包括有测试箱体，测试箱体的正面设有箱口，箱口处盖有箱门，测试箱体内部设有加热器、加湿器、托板和触压模拟机构，所述加热器控制测试箱体内部温度，所述加湿器控制测试箱体内部湿度，所述托板的四周设有若干分别用于压紧键盘薄膜开关四周的压边机构，所述触压模拟机构包括有触杆，触杆通过移动机构驱动实现X轴、Y轴、Z轴移动，触杆的下端连接有触头。本发明的键盘薄膜开关测试装置即测试方法，能够有效的模拟键盘的各种工作环境以及使用习惯，可以对键盘薄膜开关进行全面的自动测试，具有操作简单、测试准确性高、测试条件多变、适应不同产品规格等优点。
主权项：1.键盘薄膜开关测试装置，其特征在于，包括有测试箱体，测试箱体的正面设有箱口，箱口处盖有箱门，测试箱体内部设有加热器、加湿器、托板和触压模拟机构，所述加热器控制测试箱体内部温度，所述加湿器控制测试箱体内部湿度，所述托板的四周设有若干分别用于压紧键盘薄膜开关四周的压边机构，所述触压模拟机构包括有触杆，触杆通过移动机构驱动实现X轴、Y轴、Z轴移动，触杆的下端连接有触头。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 嘉兴熠泰电子科技有限公司 键盘薄膜开关测试装置及测试方法
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