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【发明公布】被检测体分析方法_浜松光子学株式会社_202280075464.1 

申请/专利权人:浜松光子学株式会社

申请日:2022-09-08

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118235037A

主分类号:G01N21/65

分类号:G01N21/65

优先权:["20211118 JP 2021-187737"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:被检测体分析方法包括:将被检测体、金属离子的溶液和还原剂混合而制作混合液的混合步骤S11;对混合液照射光,利用混合液中的还原剂的还原作用使混合液中的金属离子还原而在支承体上生成金属微小结构,并且使被检测体或源自被检测体的物质附着于金属微小结构的金属微小结构生成步骤S12;和对支承体上的金属微小结构照射激发光,测定通过该激发光照射产生的拉曼散射光的光谱的测定步骤S14。由此,实现能够容易地进行利用高效率的SERS分光的分析的被检测体分析方法。

主权项:1.一种被检测体分析方法,其中,包括:将被检测体、金属离子的溶液和还原剂混合而制作混合液的混合步骤;对所述混合液照射光,利用所述混合液中的所述还原剂的还原作用使所述混合液中的所述金属离子还原而在支承体上生成金属微小结构,并且使所述被检测体或源自所述被检测体的物质附着于所述金属微小结构的金属微小结构生成步骤;和对所述支承体上的所述金属微小结构照射激发光,测定通过该激发光照射产生的拉曼散射光的光谱的测定步骤。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浜松光子学株式会社 被检测体分析方法

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