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【发明公布】高速缓存性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质_北京开源芯片研究院_202410634793.6 

申请/专利权人:北京开源芯片研究院

申请日:2024-05-21

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118227446A

主分类号:G06F11/34

分类号:G06F11/34;G06F11/30

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本发明实施例提供一种高速缓存性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域,该方法包括:响应于测试程序中的各访存请求的多次访存操作,获取所述测试程序的访存统计信息;所述访存统计信息至少包括各所述访存请求在待评估的高速缓存中的命中次数;基于所述访存统计信息以及各所述访存请求的访存模式,对所述待评估的高速缓存的性能进行评估。这样,可以通过获取访存请求在高速缓存中的命中次数,可以实现对高速缓存的性能评估。同时,通过访存统计信息以及各访存请求的访存模式,可以从不同访存模式的维度对高速缓存的性能进行评估,实现多维度的评估,提高高速缓存性能评估的准确性。

主权项:1.一种高速缓存性能评估方法,其特征在于,所述方法包括:响应于测试程序中的各访存请求的多次访存操作,获取所述测试程序的访存统计信息;所述访存统计信息至少包括各所述访存请求在待评估的高速缓存中的命中次数;基于所述访存统计信息以及各所述访存请求的访存模式,对所述待评估的高速缓存的性能进行评估。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京开源芯片研究院 高速缓存性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质

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