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申请/专利权人：大连卓志创芯科技有限公司
申请日：2024-05-23
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118228006A
主分类号：G06F18/20
分类号：G06F18/20;G06F18/213;G06F18/23;G06F18/10;G01R31/3185;G01R31/3181
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本申请涉及芯片检测电参量分析技术领域，具体涉及一种基于FPGA技术的芯片检测方法及系统，该方法包括：获取芯片运行时内部各子电路的电压信号变化序列和电流信号变化序列；确定各采样时刻的子电路负载相关特征值；构建负载递变平稳性指数，并确定各采样时刻的负载剧烈波动系数；结合所述负载剧烈波动系数及负载递变平稳性指数构建各采样时刻的子电路奇异指数，以确定各电源压降分析序列的电压压降凸显系数；最终，计算各电源压降分析序列的电源压降作用强度；通过所有子电路的各电源压降分析序列的电源压降作用强度完成芯片检测。本申请提高了芯片故障检测精度。
主权项：1.一种基于FPGA技术的芯片检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取芯片运行时内部各子电路的电压信号变化序列和电流信号变化序列；通过电压信号变化序列和电流信号变化序列中各采样时刻的电压和电流之间的局部相关关系，以及电压和电流的分布情况，确定各采样时刻的子电路负载相关特征值；通过每个子电路各采样时刻的子电路负载相关特征值构建负载递变平稳性指数，并确定各采样时刻的负载剧烈波动系数；结合所述负载剧烈波动系数及负载递变平稳性指数构建各采样时刻的子电路奇异指数；通过每个子电路所有采样时刻的子电路奇异指数构建每个子电路的各电源压降分析序列；结合阈值分割算法通过每个子电路的电源压降分析序列内各数据之间的差异，确定各电源压降分析序列的电压压降凸显系数；结合各电源压降分析序列的电压压降凸显系数及电源压降分析序列内各数据，确定各电源压降分析序列的电源压降作用强度；通过所有子电路的各电源压降分析序列的电源压降作用强度完成芯片检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 大连卓志创芯科技有限公司 一种基于FPGA技术的芯片检测方法及系统
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