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申请/专利权人：通用电气公司
申请日：2021-11-02
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN114433869B
主分类号：B22F10/28
分类号：B22F10/28;B22F12/90;B33Y10/00;B33Y30/00
优先权：["20201103 US 17/088,231"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2022.05.24#实质审查的生效;2022.05.06#公开
摘要：公开了用于监控电子束增材制造系统的操作的部件的设备、系统、方法以及套件。监控系统包括一个或多个测量设备，测量设备定位在增材制造系统的构建室的内部的至少一个壁上。一个或多个测量设备中的每一个包括压电晶体。监控系统进一步包括通信地联接到一个或多个测量设备的分析部件。分析部件编程为接收与压电晶体的振荡频率有关的信息。在构建室内形成制品期间，在一个或多个测量设备上的材料的收集引起压电晶体的振荡频率的变化，该变化能够由分析部件检测并可用于确定制品的潜在构建异常。
主权项：1.一种用于电子束增材制造系统的监控系统，所述电子束增材制造系统包括构建室，所述构建室具有至少一个壁，所述至少一个壁限定所述构建室的内部，其特征在于，所述监控系统包括：一个或多个测量设备，所述一个或多个测量设备定位在所述构建室的所述内部的所述至少一个壁上，所述一个或多个测量设备中的每一个包括压电晶体；和分析部件，所述分析部件通信地联接到所述一个或多个测量设备，所述分析部件编程为接收与所述压电晶体的振荡频率有关的信息，其中，在所述构建室内形成制品期间，在所述一个或多个测量设备上的材料收集引起所述压电晶体的振荡频率的变化，所述变化能够由所述分析部件检测并能够用于确定所述制品的潜在构建异常。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 通用电气公司 用压电晶体监控电子束增材制造的操作
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