申请/专利权人:深圳市八零联合装备有限公司
申请日:2021-12-30
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN114345732B
主分类号:B07C5/04
分类号:B07C5/04;B07C5/36;H01L21/67
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.21#授权;2022.05.03#实质审查的生效;2022.04.15#公开
摘要:本发明公开了一种晶粒合档方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括:根据预设分区尺寸将点测晶粒划分到至少两个区域块;在所述至少两个区域块中按照预设晶粒选择顺序将点测数据集和扫描数据集进行合档。本发明实施例,通过在至少两个区域块中按照预设晶粒选择顺序将点测数据集和扫描数据集进行合档,实现了晶粒数据的准确合档,降低设备的内存空间占用,提高了晶粒合档效率,从而提高了芯片生产的稳定性。
主权项:1.一种晶粒合档方法,其特征在于,所述方法包括:根据预设分区尺寸将点测晶粒划分到至少两个区域块;在所述至少两个区域块中按照预设晶粒选择顺序将点测数据集和扫描数据集进行合档;其中,所述在所述至少两个区域块中按照预设晶粒选择顺序将点测数据集和扫描数据集进行合档,包括:针对各所述区域块,分别获取所述点测数据集的初始行列和所述扫描数据集的初始坐标;将所述初始坐标对应的初始扫描晶粒为起点并按照所述预设晶粒选择顺序在所述扫描数据集中获取目标扫描晶粒以及将所述初始行列对应的初始点测晶粒为起点并按照所述预设晶粒选择顺序在所述点测数据集中获取目标点测晶粒;在同时获取到所述目标扫描晶粒和所述目标点测晶粒的情况下,将所述目标扫描晶粒的扫描数据和点测数据进行合并,标记所述扫描数据和所述点测数据有效,并将所述目标扫描晶粒和所述目标点测晶粒分别作为新的所述初始扫描晶粒和所述初始点测晶粒;在仅获取到所述目标扫描晶粒的情况下,将所述目标扫描晶粒的扫描数据标记失效,按照所述预设晶粒选择顺序重新选择所述目标扫描晶粒和所述目标点测晶粒;在仅获取到所述目标点测晶粒的情况下,将所述目标点测晶粒的点测数据标记失效,按照所述预设晶粒选择顺序重新选择所述目标扫描晶粒和所述目标点测晶粒;各所述区域块对应的所述点测数据集的点测数据和所述扫描数据集的扫描数据均被标记后完成所述合档。
全文数据:
权利要求:
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