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【发明授权】一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置_中国电子科技集团公司第十三研究所_201911199042.1 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第十三研究所

申请日:2019-11-29

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN111025053B

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权;2020.05.12#实质审查的生效;2020.04.17#公开

摘要:本发明提供了一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置,属于射频组件测试技术领域,包括测试台、测试组件以及弹性定位组件,其中,测试台用于固定安装微波射频组件,测试台上横向滑动连接有第一托板,第一托板上纵向滑动连接有第二托板,第二托板上固定连接有滑座;测试组件与滑座沿上下方向滑动连接;测试组件用于与测试电缆电连接,且用于测试微波射频组件上的射频馈点;弹性定位组件设于测试组件与滑座之间,用于向下定位测试组件的测试位置及带动测试组件向上弹起.本发明提供的一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置,测试效率高,测试过程安全可靠,而且能够通用多种无连接器射频馈点输出型微波射频组件。

主权项:1.一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置,其特征在于,包括:测试台,用于固定安装微波射频组件;所述测试台上横向滑动连接有第一托板,所述第一托板上纵向滑动连接有第二托板;所述第二托板上固定连接有滑座;测试组件,与所述滑座沿上下方向滑动连接;所述测试组件用于与测试电缆电连接,且用于测试所述微波射频组件上的射频馈点;弹性定位组件,设于所述测试组件与所述滑座之间,用于向下定位所述测试组件的测试位置及带动所述测试组件向上弹起;所述弹性定位组件包括:弹性元件,沿上下方向设于所述测试组件与所述滑座之间,所述弹性元件用于对所述测试组件施加向下的弹性力;压杆,铰接于所述第二托板上,所述压杆的一端用于与所述测试组件的下端面抵接,另一端用于施加外力;所述测试组件上设有沿上下方向延伸的容置槽,所述滑座上设有挡板,所述挡板用于插入所述容置槽内,所述弹性元件的一端与所述容置槽的底壁抵接,另一端与所述挡板的下表面抵接;所述测试组件包括:连接架,与所述滑座沿上下方向滑动连接;所述容置槽设置在所述连接架上;所述压杆与所述连接架的下端面抵接;测试架,与所述连接架纵向滑动连接;测试探针,与所述测试架上下滑动连接;所述滑座上设有沿上下方向延伸的滑槽,所述连接架与所述滑槽滑动连接;所述滑槽两侧分别固接有第一导轨;所述连接架两侧分别固接有第二导轨;所述第一导轨与所述第二导轨滑动接触;所述滑座的下部设有避让槽,所述压杆与所述连接架的抵接端转动连接有套筒,所述套筒穿过所述避让槽,且与所述连接架的下端面抵靠。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第十三研究所 一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置

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