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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请日：2021-02-20
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN112950560B
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06T7/62;G06F16/58;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2021.07.02#实质审查的生效;2021.06.11#公开
摘要：本公开关于一种电子元器件缺陷检测方法、装置及系统。一个方法实施例中，可以自动检测电子元器件的缺陷，输出缺陷检测结果，可以提高电子元器件缺陷检测的速度。并且，由于公开实施例中，缺陷检测时采用了缺陷检测模型识别出不同的缺陷类型，针对不同的缺陷类型选择更加匹配的缺陷尺寸计算方式，缺陷尺寸计算可以实现对缺陷区域的量化计算，可以减少误判，提高电子元器件缺陷的检测准确率。
主权项：1.一种电子元器件缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测电子元器件的图像；将所述图像输入训练得到的缺陷检测模型，得到所述待检测电子元器件的缺陷类型和位置标签；其中，所述缺陷检测模型基于构建的良品图库和缺陷图库训练得到；根据所述缺陷类型确定所述待检测电子元器件的缺陷尺寸计算方式，所述缺陷类型包括线缺陷和面缺陷，所述线缺陷对应的缺陷计算方式为缺陷长度计算，所述面缺陷对应的缺陷计算方式为缺陷面积计算；利用所述缺陷尺寸计算方式对所述图像中的缺陷区域进行缺陷尺寸计算，根据计算结果确定所述待检测电子元器件的缺陷检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 电子元器件缺陷检测方法、装置及系统
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