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申请/专利权人：西北核技术研究所
申请日：2021-12-31
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN114554183B
主分类号：H04N17/00
分类号：H04N17/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2022.06.14#实质审查的生效;2022.05.27#公开
摘要：本发明提出了一种CIS辐照后像素单元电荷转移效率的测试系统及方法，该方法能够对辐照后CMOS图像传感器单个特定像素单元的电荷转移效率进行测量，为辐照后CMOS图像传感器像素单元电荷转移损伤评估提供技术支撑。该测试系统包括控制计算机、直流电源、暗箱、测试板、FPGA控制模块和光源；暗箱内设置有温度控制装置，用于控制测试时的温度；测试板设置在暗箱底端，其上分别安装有FPGA控制模块和CMOS图像传感器；光源设置在暗箱的顶端，且设置在CMOS图像传感器的正上方；直流电源设置在暗箱外侧，其输出端与测试板连接，用于给CMOS图像传感器和光源提供电信号。控制计算机设置在暗箱外侧，用于CMOS图像传感器的输出信号采集和处理。
主权项：1.一种CIS辐照后像素单元电荷转移效率的测试系统，其特征在于，包括控制计算机、直流电源、暗箱、测试板、FPGA控制模块和光源；所述暗箱内设置有温度控制装置，用于控制测试时的温度；所述测试板设置在暗箱底端，其上安装有相连接的FPGA控制模块和CMOS图像传感器；CMOS图像传感器放置于暗箱中，CMOS图像传感器采用离线辐照方式，辐照后将器件取出并安装在测试板上；所述光源设置在暗箱的顶端，且设置在CMOS图像传感器的正上方；所述直流电源设置在暗箱外侧，其输出端与测试板连接，用于给CMOS图像传感器和光源提供电信号；所述控制计算机设置在暗箱外侧，且与测试板相连，通过FPGA控制模块控制CMOS图像传感器的数据采集和处理。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西北核技术研究所 CIS辐照后像素单元电荷转移效率的测试系统及方法
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