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一种透射电镜磁性样品预处理装置 

申请/专利权人:北京理工大学

申请日:2024-05-28

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118243471A

主分类号:G01N1/28

分类号:G01N1/28;G01N23/04;G01N23/20008;G01N9/24;G01N9/36;G01N1/34;G01N1/38

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明公开了透射电镜辅助设备领域的一种透射电镜磁性样品预处理装置,包括箱体,箱体内设有盛放容器,箱体侧壁上设有磁性吸附组件,磁性吸附组件用于探入盛放容器中对磁性样品进行吸附;箱体内设有用于对盛放容器进行搅拌的搅拌组件;箱体顶部设有光束发射源,光束发射源用于发射若干平行光束,盛放容器由透明材料制成,箱体底部设有光束接收源,光束接收源用于采集平行光束打击点的光谱信息,箱体底壁内设有控制器,箱体侧壁固定连接有磁场生成器。采用本发明的技术方案,能够对磁性样品的去除效果进行检测,保障去除率。

主权项:1.一种透射电镜磁性样品预处理装置,其特征在于:包括箱体,箱体内设有盛放容器,箱体侧壁上设有磁性吸附组件,磁性吸附组件用于探入盛放容器中对磁性样品进行吸附;箱体内设有用于对盛放容器进行搅拌的搅拌组件;箱体顶部设有光束发射源,光束发射源用于发射若干平行光束,盛放容器由透明材料制成,箱体底部设有光束接收源,光束接收源用于采集平行光束打击点的光谱信息,箱体底壁内设有控制器,箱体侧壁固定连接有磁场生成器;控制器用于获取光束接收源采集的光谱信息,根据光谱信息中预设波段的衰减量计算平行光束光路中样品密度;控制器用于在搅拌均与后,采集各平行光束光路中样品密度,采集判断样品的均匀度;控制器用于在采集判断样品的均匀度后,启动磁场生成器,磁场生成器会使残留的磁性样品沿磁场线方向移动,采集各平行光束光路中样品密度变化值,评估磁性样品去除率。

全文数据:

权利要求:

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