申请/专利权人:上海集成电路制造创新中心有限公司
申请日:2024-03-20
公开(公告)日:2024-06-25
公开(公告)号:CN118244460A
主分类号:G02B13/18
分类号:G02B13/18;G01B11/00;G01J3/02;G01J3/44
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.25#公开
摘要:本发明公开了一种物镜系统,包括物镜,所述物镜由两片非球面镜片构成,从物平面发出的光依次经过两片所述非球面镜片,汇聚于焦平面;其中,通过调整所述焦平面的位置,实现在一定的探测光波长范围内工作。本发明通过调整焦平面位置,可消除不同波长的光引起的色差,实现对光学测量性能的提升,以及实现在一定波长范围内的连续工作,从而实现传统的多波长、宽光谱的光学关键尺寸测量,并有利于大规模制造。
主权项:1.一种物镜系统,其特征在于,包括物镜,所述物镜由两片非球面镜片构成,从物平面发出的光依次经过两片所述非球面镜片,汇聚于焦平面;其中,通过调整所述焦平面的位置,实现在一定的探测光波长范围内工作。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海集成电路制造创新中心有限公司 一种物镜系统
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