申请/专利权人:深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日:2022-12-15
公开(公告)日:2024-06-25
公开(公告)号:CN118244506A
主分类号:G02B27/62
分类号:G02B27/62;G02B7/00
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.25#公开
摘要:一种光学设备及其工作方法,所述光学设备包括:光源模块,用于沿第一路径向待调光学元件发射第一入射光;自准直仪,包括第二光源和探测器;所述第二光源用于沿第二路径向待调光学元件发射第二入射光;所述探测器用于采集从第三路径传输过来的所述第一入射光对应的第一反射光,和或采集从第四路径传输过来的所述第二入射光对应的第二反射光;其中,所述第一反射光用于检测所述待调光学元件的偏心量,所述第二反射光用于检测所述待调光学元件的倾斜量。本发明技术方案有利于提高光学元件装调的精度,进而能够减小检测系统因光学元件的装调精度较低所引起的测量误差,相应能够提高检测的精度。
主权项:1.一种光学设备,其特征在于,包括:光源模块,用于沿第一路径向待调光学元件发射第一入射光;自准直仪,包括第二光源和探测器;所述第二光源用于沿第二路径向待调光学元件发射第二入射光;所述探测器用于采集从第三路径传输过来的所述第一入射光对应的第一反射光,和或采集从第四路径传输过来的所述第二入射光对应的第二反射光;其中,所述第一反射光用于检测所述待调光学元件的偏心量,所述第二反射光用于检测所述待调光学元件的倾斜量。
全文数据:
权利要求:
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