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一种去除硅溶胶中小粒径胶粒的方法 

申请/专利权人:航天特种材料及工艺技术研究所

申请日:2022-12-01

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN116022796B

主分类号:C01B33/146

分类号:C01B33/146

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.05.16#实质审查的生效;2023.04.28#公开

摘要:本发明公开一种除去硅溶胶中小粒径胶粒的方法,涉及硅溶胶材料领域。本方法通过向硅溶胶中滴加强酸溶液,将硅溶胶的pH值调节至1~4;将硅溶胶中加入氟离子配位化合物,然后加热至沸腾并保温一段时间,期间保持搅拌;将硅溶胶进行阴离子交换,捕获含氟的阴离子物质,阴离子交换完成后得到去除小颗粒粒径胶粒的硅溶胶。本发明能够除去硅溶胶中小粒径胶粒,同时保留硅溶胶中的大粒径胶粒。

主权项:1.一种去除硅溶胶中小粒径胶粒的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)通过向硅溶胶中滴加强酸溶液,将硅溶胶的pH值调节至1~4;2)将经过步骤1)处理后的硅溶胶中加入氟离子配位化合物,然后加热至沸腾并保温一段时间,期间保持搅拌;所述氟离子配位化合物选用H2SiF6、HPF6、HSbF6、H3AlF6、HBF4中的一种无机酸或者前述无机酸所对应的一种钠盐、钾盐或铵盐;所述氟离子配位化合物的浓度为0.1~1molL;3)将经过步骤2)处理后的硅溶胶进行阴离子交换,捕获含氟的阴离子物质,阴离子交换完成后得到去除小颗粒粒径胶粒的硅溶胶。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 航天特种材料及工艺技术研究所 一种去除硅溶胶中小粒径胶粒的方法

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