申请/专利权人：青岛泰睿思微电子有限公司

申请日：2023-11-15

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN117233436B

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2024.01.02#实质审查的生效;2023.12.15#公开

摘要：本发明涉及半导体封装技术领域，尤其涉及一种分立器件的开尔文测试切换装置及其测试切换方法，该装置包括测试板和拨码器；拨码器上设有若干个拨码，测试板上的若干个脚位分别与若干个拨码对应连接，测试板与分立器件的测试端连接。每个所述的脚位均包括S端和F端，每个脚位的S端与相应拨码的一端对应连接，每个脚位的F端与相应拨码的另一端对应连接。本发明涉及半导体封装技术领域，能够解决现有技术中开尔文测试与非开尔文测试切换不便的问题。

主权项：1.一种分立器件的开尔文测试切换装置，其特征是：包括测试板（1）和拨码器（2）；拨码器（2）上设有若干个拨码（201），测试板（1）上的若干个脚位（101）分别与若干个拨码（201）对应连接，测试板（1）与分立器件（3）的测试端连接；每个所述的脚位（101）均包括S端和F端，每个脚位（101）的S端与相应拨码（201）的一端对应连接，每个脚位（101）的F端与相应拨码（201）的另一端对应连接；所述的拨码（201）包括ON端和OFF端；拨码（201）的拨动头拨动至ON端时，拨码（201）导通并短接相应脚位（101）的S端和F端；拨码（201）的拨动头拨动至OFF端时，拨码（201）断开相应脚位（101）的S端和F端；所述的分立器件的开尔文测试切换装置的测试切换方法包括以下步骤：步骤1：将测试板（1）的每个脚位的S端分别与拨码器（2）上每个拨码（201）的一端对应连接，测试板（1）的每个脚位的F端分别与拨码器（2）上每个拨码（201）的另一端对应连接；步骤2：将测试板（1）与分立器件（3）连接；步骤3：在对分立器件（3）进行开尔文测试时，根据测试要求，选择测试板（1）上相应的脚位（101），并将该脚位（101）对应的拨码（201）的拨动头拨动至ON端；步骤4：拨码（201）导通并短接该脚位（101）的S端和F端，通过测试板（1）的该脚位（101）对分立器件（3）进行开尔文测试；步骤5：测试结束后，将该脚位（101）对应的拨码（201）的拨动头拨动至OFF端，使拨码（201）断开该脚位（101）的S端和F端，切换至非开尔文测试状态；步骤6：根据后续的不同测试要求，重复步骤3至步骤5，依次选择相对应的脚位（101）进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 青岛泰睿思微电子有限公司 分立器件的开尔文测试切换装置及其测试切换方法

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