申请/专利权人：合肥金星智控科技股份有限公司

申请日：2021-11-09

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN114235785B

主分类号：G01N21/71

分类号：G01N21/71

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2022.04.12#实质审查的生效;2022.03.25#公开

摘要：本发明提供一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统，属于激光诱导击穿光谱技术领域，其中方法包括：根据待测样品包含的元素种类，确定用于建立待测样品定性或定量模型的第一特征峰集合；结合第一特征峰集合对新采集的待测样品光谱数据进行评估，获得待测样品光谱数据的质量分数；根据质量分数确定新采集的待测样品光谱数据的质量。本发明通过对光谱数据特征峰数量、强度、信背比和稳定性等方面进行全方位评估，给出光谱质量的综合评估结果，最后通过分值对采集的光谱质量进行呈现，更直观的反应检测光谱的质量情况，便于后续的定量分析。

主权项：1.一种激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，包括以下步骤：根据待测样品包含的元素种类，确定用于建立待测样品定性或定量模型的第一特征峰集合；结合第一特征峰集合对新采集的待测样品光谱数据进行评估，获得待测样品光谱数据的质量分数，包括：确定光谱数据单项评估指标；结合第一特征峰集合，通过光谱数据单项评估指标对新采集的待测样品光谱数据进行单项评估，获得新采集的待测样品光谱数据各个单项评估指标的综合评估值；对新采集的待测样品光谱数据各个单项的综合评估值设定相应的权值，获得待测样品光谱数据的质量分数；其中，光谱数据的单项评估指标包括：特征峰数量、特征峰强度、特征峰的信背比、特征峰洛伦兹拟合的相关系数和特征峰的半高宽；新采集的待测样品光谱数据是待测样品的一次采集的光谱数据，获得新采集的待测样品光谱数据各个单项评估指标的综合评估值包括以下步骤：确定第一特征峰集合中的各个特征峰的波长；根据各个特征峰的波长确定新采集的待测样品光谱数据中的特征峰数量，获得第二特征峰集合；根据第一特征峰集合、第二特征峰集合中的特征峰数量，评估新采集的待测样品光谱数据的特征峰数量，获得特征峰数量指标的综合评估值；对于特征峰强度、特征峰的信背比、特征峰洛伦兹拟合的相关系数和特征峰的半高宽，根据各个单项评估指标设定的阀值对应评估第二特征峰集合中的每个特征峰，分别获得每个特征峰的各个单项评估指标的分数值；求取第二特征峰集合中每个特征峰的各个单项评估指标分数值的平均值，获得特征峰各个单项评估指标的综合评估值；或，对第二特征峰集合中每个特征峰的各个单项评估指标分数值设置权值，分别求和获得特征峰各个单项评估指标的综合评估值；根据质量分数确定新采集的待测样品光谱数据的质量。

全文数据：

权利要求：

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