申请/专利权人：三菱化学株式会社

申请日：2015-07-07

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN115504465B

主分类号：C01B32/20

分类号：C01B32/20;H01M4/36;H01M4/583;H01M4/587;H01M4/62;H01M10/0525

优先权：["20140707 JP 2014-139782","20141119 JP 2014-234606","20141208 JP 2014-248251","20150326 JP 2015-064897","20150327 JP 2015-067180","20150327 JP 2015-067184","20150327 JP 2015-067194","20150327 JP 2015-067201","20150617 JP 2015-122197","20150617 JP 2015-122198"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2023.01.10#实质审查的生效;2022.12.23#公开

摘要：本发明提供一种碳材料，其含有满足下述1L及2L的造粒粒子，其中，从所述碳材料的截面SEM图像中任意选择30个所述造粒粒子时，所述造粒粒子的按照下述定义的空隙部间的距离Z的30个粒子的平均值Zave与利用激光衍射测定的体积基准平均粒径X之比ZaveX为0.060以下，从所述碳材料的截面SEM图像中任意选择30个所述造粒粒子时，所选择的粒子的70％以上具有狭缝状的空隙部，并且狭缝状的空隙部主要以叠层的状态配置。1L以碳质物质为原料2L利用激光衍射测定的体积基准平均粒径X与由截面SEM图像测量的等效圆直径X1的关系为|X1－X|X1≤0.2。

主权项：1.一种碳材料，其含有满足下述1L及2L的造粒粒子，其中，从所述碳材料的截面SEM图像中任意选择30个所述造粒粒子时，所述造粒粒子的按照下述定义的空隙部间的距离Z的30个粒子的平均值Zave与利用激光衍射测定的体积基准平均粒径X之比ZaveX为0.060以下，1L以碳质物质为原料，2L利用激光衍射测定的体积基准平均粒径X与由截面SEM图像测量的等效圆直径X1的关系为|X1－X|X1≤0.2，空隙部间的距离Z的30个粒子的平均值Zave的定义：画出与所述造粒粒子的短轴平行、且将所述造粒粒子的长轴4分割的3个线段，分别计算出存在于各线段上的所述造粒粒子的各空隙部间的距离Zμm，计算出总计30个粒子的平均值，将所述平均值定义为空隙部间的距离Z的30个粒子的平均值Zave，其中，截面SEM图像是以10kV取得的反射电子图像，从所述碳材料的截面SEM图像中任意选择30个所述造粒粒子时，所选择的粒子的70％以上具有狭缝状的空隙部，并且狭缝状的空隙部主要以叠层的状态配置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 三菱化学株式会社 碳材料、碳材料的制造方法、以及使用了碳材料的非水系二次电池

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD