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一种陶瓷晶片极化测试夹具 

申请/专利权人:海鹰企业集团有限责任公司

申请日:2023-10-19

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN221224804U

主分类号:G01R1/04

分类号:G01R1/04;G01R31/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权

摘要:本实用新型涉及陶瓷晶片极化测试技术领域,特别涉及一种陶瓷晶片极化测试夹具。包括:定位架、下压板和测试探针;所述定位架的上端弹性滑动连接有所述下压板,所述下压板的底部左右两侧可拆卸安装有两个所述测试探针;其中所述测试探针包括:连接头和接触探针;所述连接头上周向设有多个正负极区域,所述多个正负极区域的输入端通过耐高温绝缘导线连接至正负接线端,输出端插接导通有所述接触探针。针对测试区域安装接触探针,各正负极区域通过耐高温绝缘导线连接至输入端口,满足圆形或环形多区陶瓷晶片的高温极化和测量。

主权项:1.一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,包括:定位架、下压板2和测试探针;所述定位架的上端弹性滑动连接有所述下压板2,所述下压板2的底部左右两侧可拆卸安装有两个所述测试探针;其中所述测试探针包括:连接头31和接触探针32;所述连接头31上周向设有多个正负极区域,所述多个正负极区域的输入端通过耐高温绝缘导线连接至正负接线端5,输出端插接导通有所述接触探针32;所述定位架的定位板11上开设有两个定位槽15,用于放置环形或圆形多极性区域的待测陶瓷晶片6。

全文数据:

权利要求:

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