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分布式芯片集群的异常恢复方法、装置及存储介质 

申请/专利权人:寒武纪(西安)集成电路有限公司

申请日:2022-12-27

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118260108A

主分类号:G06F11/07

分类号:G06F11/07

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本申请实施例提供一种分布式芯片集群的异常恢复方法、装置及存储介质,通过检测分布式芯片集群拓扑结构中任意芯片节点出现的异常,将异常通知传递给拓扑结构中其他芯片节点;对于拓扑结构中的任一芯片节点,响应于异常通知,确定本芯片节点的当前状态,并根据当前状态对本芯片节点进行异常恢复。在分布式芯片集群拓扑结构中任意芯片节点出现异常后可快速将异常通知传递给分布式芯片集群拓扑结构中所有其他芯片节点,从而各芯片节点均能够快速根据自身当前状态进行异常恢复,使得拓扑结构中的所有芯片节点均能自动恢复至正常状态,进而可以快速重新开始运行数据处理任务,保证后续数据处理任务的正常执行。

主权项:1.一种分布式芯片集群的异常恢复方法,其特征在于,所述分布式芯片集群包括多个芯片节点,所述多个芯片节点中部分或全部芯片节点构成拓扑结构;所述方法包括:检测所述拓扑结构中任意芯片节点出现的异常,将异常通知传递给所述拓扑结构中其他芯片节点;对于所述拓扑结构中的任一芯片节点,响应于所述异常通知,确定本芯片节点的当前状态,并根据所述当前状态对本芯片节点进行异常恢复。

全文数据:

权利要求:

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