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一种CMOS图像传感器芯片测试系统 

申请/专利权人:合肥中科君达视界技术股份有限公司

申请日:2024-02-19

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118259135A

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明公开了一种CMOS图像传感器芯片测试系统,包括CMOS模块、FPGA模块、ARM模块和PC机,PC机与ARM模块连接,ARM模块与FPGA模块连接,ARM模块、FPGA模块还分别通过CMOS模块与待测CMOS图像传感器芯片连接;PC机通过ARM模块分别向FPGA模块、CMOS模块传输控制指令数据,CMOS模块接收控制指令数据时控制待测CMOS图像传感器芯片工作产生原始图像数据,FPGA模块接收控制指令数据时接收原始图像数据并进行处理,最终由FPGA模块将原始图像数据和处理结果通过ARM模块传输至PC机。本发明相比现有技术,具有测试效率高、测试过程可靠、测试准确率高的优点。

主权项:1.一种CMOS图像传感器芯片测试系统,其特征在于:包括CMOS模块、FPGA模块、ARM模块,ARM模块与FPGA模块电连接,所述CMOS模块供待测CMOS图像传感器芯片电连接,所述ARM模块、FPGA模块分别通过CMOS模块与待测CMOS图像传感器芯片电连接,其中:所述ARM模块分别向FPGA模块、CMOS模块传输控制指令数据,所述CMOS模块接收控制指令数据时产生相应控制信号并加载至待测CMOS图像传感器芯片,使待测CMOS图像传感器芯片工作产生原始图像数据;所述FPGA模块接收控制指令数据时接收待测CMOS图像传感器芯片产生并通过CMOS模块传输的原始图像数据,由FPGA模块对原始图像数据进行误码率、丢帧率和错帧率的计算;当FPGA模块计算的误码率、丢帧率和错帧率三者均为零,则FPGA直接将原始图像数据和误码率、丢帧率、错帧率计算结果传输至ARM模块;当FPGA模块计算的误码率、丢帧率和错帧率其中之一不为零时,则由FPGA模块先对原始图像数据重新封装同步码后,再将封装后的图像数据传输至ARM模块。

全文数据:

权利要求:

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