申请/专利权人：株式会社爱信

申请日：2020-02-07

公开（公告）日：2024-06-28

公开（公告）号：CN111551939B

主分类号：G01S15/08

分类号：G01S15/08;G01S15/931

优先权：["20190208 JP 2019-021927"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.28#授权;2022.03.01#著录事项变更;2021.12.07#实质审查的生效;2020.08.18#公开

摘要：本发明提供一种提高物体位置计算的精度的物体检测装置。实施方式的物体检测装置，例如，具备：距离处理部，在第一收发部发送了探测波的情况下，该距离处理部根据第一收发部的接收结果和第二收发部的接收结果来计算出第一点，在第二收发部发送了探测波的情况下，该距离处理部根据第一收发部的接收结果和第二收发部的接收结果来计算出第二点，并且该距离处理部计算出第一点和第二点的间隔距离；位置计算部，该位置计算部根据第一点和第二点来计算出物体的位置；反射强度处理部，该反射强度处理部计算出表示第一收发部和第二收发部接收到的探测波的强度的反射强度；以及位置校正部，该位置校正部校正物体的位置。

主权项：1.一种物体检测装置，其中，具备：第一收发部和第二收发部，该第一收发部和该第二收发部在水平方向上隔开规定距离地配置，并且该第一收发部和该第二收发部发送探测波，且接收由物体反射的所述探测波；以及处理部，该处理部根据所述第一收发部的接收结果和所述第二收发部的接收结果来计算物体的位置，所述处理部具备：距离处理部，在所述第一收发部发送了探测波的情况下，该距离处理部根据所述第一收发部的接收结果和所述第二收发部的接收结果来计算出第一点，在所述第二收发部发送了探测波的情况下，该距离处理部根据所述第一收发部的接收结果和所述第二收发部的接收结果来计算出第二点，并且该距离处理部计算出所述第一点和所述第二点的间隔距离；位置计算部，该位置计算部根据所述第一点和所述第二点来计算出所述物体的位置；反射强度处理部，该反射强度处理部计算出反射强度，该反射强度表示所述第一收发部和所述第二收发部接收到的所述探测波的强度；以及位置校正部，该位置校正部根据所述间隔距离和所述反射强度来校正所述物体的位置，所述距离处理部判定所述间隔距离是否在规定的间隔距离阈值以上，所述反射强度处理部判定所述反射强度是否在规定的反射强度阈值以上，在所述距离处理部的判定结果中所述间隔距离为规定的间隔距离阈值以上、且所述反射强度处理部的判定结果中所述反射强度小于规定的反射强度阈值的情况下，所述位置校正部校正所述物体的位置，以使距所述物体的距离变小。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社爱信 物体检测装置

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