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使用天线阵列的无线测试夹具和执行无线生产测试的方法 

申请/专利权人:美国国家仪器有限公司

申请日:2019-05-15

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN112204406B

主分类号:G01R1/04

分类号:G01R1/04;G01R31/28;G01R31/302;G01R29/10

优先权:["20180521 US 62/674,455","20181102 US 16/179,578"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.28#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.01.08#公开

摘要:本发明提出了用于测试例如,快速和廉价地具有天线的装置的系统和方法的各种实施例,天线被配置成用于射频RF和或毫米波mmW传输和或接收。待测装置例如,被测装置DUT可以安装到测量夹具中的接口例如,插槽、电波暗室等。可通过接口测试DUT的电力连接和数据连接,该接口还可以提供用于输入输出信号、电力和控制的连接,并且还可以提供定位。可以使用天线或探测器的阵列无线地测试DUT的RF特性例如,包括传输、接收和或波束成形。

主权项:1.一种用于对被测装置DUT执行无线生产测试的方法,所述方法包括:将基于测试输入的波束成形无线信号传输到所述DUT,其中,所述DUT安装在测试位置,其中,所述测试位置是在测量夹具中,其中,所述测试位置包括用于至所述DUT的电力、控制和数据的连接,其中,所述测试位置在相对于测试天线阵列的远场边界和近场边界之间的过渡区内;并且其中,使用测试天线阵列和第一接收方向图定义来传输所述测试输入,其中,所述第一接收方向图定义包括至少一个损伤,其中,所述至少一个损伤包括故意引入的低功率、干扰、噪声和或波束成形损伤;基于所述波束成形无线信号从所述DUT接收第一输出信号,其中,所述第一输出信号基于来自所述DUT的多个天线使用波束成形方向图的波束成形输出数据,其中所述第一输出信号包括以下当中的一项:由所述DUT接收的调制信号;或者由所述DUT接收的调制信号的质量度量;以及至少部分地基于所述第一输出信号确定所述DUT是否满足质量标准。

全文数据:

权利要求:

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