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基于钙钛矿单晶衬底与二维材料沟道的CMOS FinFET器件及其制备方法 

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申请/专利权人:西北工业大学

摘要:本发明涉及一种基于钙钛矿单晶衬底与二维材料沟道的CMOSFinFET器件及其制备方法,制备方法包括:选取钙钛矿单晶衬底层;刻蚀钙钛矿单晶衬底层形成第一Fin和第二Fin;在钙钛矿单晶衬底层上制备绝缘层,且暴露第一Fin和第二Fin的顶面和部分侧面;在第一Fin上制备电子沟道传输层;在第二Fin上制备空穴沟道传输层;在电子沟道传输层和空穴沟道传输层上均制备源极和漏极;在电子沟道传输层上的源极、漏极之间的沟道和在空穴沟道传输层上的源极、漏极之间的沟道上制备栅介质层;在栅介质层上制备栅极。本发明所制备的CMOSFinFET具有材料成本低、开关比大、开关速度快、光电转换效率高、响应光谱宽、载流子迁移率高、栅控能力强以及光电双控功能的特点。

主权项:1.一种基于钙钛矿单晶衬底与二维材料沟道的CMOSFinFET的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:选取钙钛矿单晶衬底层100;刻蚀所述钙钛矿单晶衬底层100形成第一Fin102和第二Fin103;在所述钙钛矿单晶衬底层100上制备绝缘层104,且暴露所述第一Fin102和所述第二Fin103的顶面和部分侧面;在所述第一Fin102上制备电子沟道传输层106;在所述第二Fin103上制备空穴沟道传输层108;在所述电子沟道传输层106和所述空穴沟道传输层108上均制备源极和漏极;在所述电子沟道传输层106上的所述源极、所述漏极之间的沟道和在所述空穴沟道传输层108上的所述源极、所述漏极之间的沟道上制备栅介质层109;在所述栅介质层109上制备栅极110。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西北工业大学 基于钙钛矿单晶衬底与二维材料沟道的CMOS FinFET器件及其制备方法

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