首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

一种具有3D NAND深孔结构的TEM样品的制备方法及TEM样品 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:上海季丰电子股份有限公司

摘要:本发明提供了一种具有3DNAND深孔结构的TEM样品的制备方法及TEM样品。所述制备方法包括以下步骤:在半导体3DNAND的表面定位具有深孔结构的目标区域并标记;将离子减薄树脂涂敷于目标区域的表面并固化,形成保护层;将具有保护层的目标区域进行裂片处理;将目标区域的裂片样品粘结于载具后,使所述目标区域的裂片样品中的深孔平行于所述载具;采用聚焦离子束对目标区域的裂片进行第一次减薄,得到粗样品;将粗样品转移至FIB载网的顶端,并固定;采用聚焦离子束对粗样品进行第二次减薄,得到TEM样品。本发明所述制备方法无窗帘效应、时效快、成功率高;且适合大面积重复性的结构,制备效率高。

主权项:1.一种具有3DNAND深孔结构的TEM样品的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:在半导体3DNAND的表面定位具有深孔结构的目标区域,并标记;将离子减薄树脂涂敷于目标区域的表面,并固化,形成保护层;将具有保护层的目标区域进行裂片处理,得到目标区域的裂片样品;将目标区域的裂片样品的其中一面粘结于载具后,且使所述目标区域的裂片样品中的深孔平行于所述载具;采用聚焦离子束对目标区域的裂片进行第一次减薄,得到粗样品;将粗样品转移至FIB载网的顶端,并固定;采用聚焦离子束对粗样品进行第二次减薄,得到所述具有3DNAND深孔结构的TEM样品。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海季丰电子股份有限公司 一种具有3D NAND深孔结构的TEM样品的制备方法及TEM样品

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。