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申请/专利权人：四川大学
摘要：本发明涉及三维测量领域，特别是一种偏振自旋转滤光的结构光三维测量方法及设备。本发明提出了一种通过将偏振与格雷码编码结构光相结合的三维重建方法，可以有效校正拍摄图像中高光亮区域光强，解决了被测物体由于反光导致成像饱和的问题，补全了高光亮面信息缺失。同时，本发明结合格雷码‑相移编码的结构光，显著减少局部误码的产生，从而起到减少计算量、提升三维重建精度的效果。
主权项：1.一种偏振自旋转滤光的结构光三维测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：通过偏振片将测试图像投射到测试物体表面，旋转所述偏振片，获取所述测试物体在不同旋转角度下的表面光强；S2：根据所述测试物体在不同旋转角度下的表面光强，求解平均灰度最小时对应的旋转角度，输出为耀光抑制最佳角度；S3：将格雷码-相移编码结构光通过偏振片投射到待测物体的表面，采集所述待测物体表面的变形条纹图像；其中，所述偏振片的旋转角度为耀光抑制最佳角度；所述变形条纹图像包括从结构光投影位置左右两侧获取的相移图组；S4：根据变形条纹图像求解所述待测物体的三维信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 四川大学 一种偏振自旋转滤光的结构光三维测量方法及设备
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