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一种钴靶材EBSD检测的制样方法 

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申请/专利权人:宁波江丰电子材料股份有限公司

摘要:本发明提供了一种钴靶材EBSD检测的制样方法,所述制样方法包括将钴靶材切割成钴靶块;对所述的钴靶块依次进行第一研磨、第二研磨、第三研磨和抛光处理,得到抛光靶材;对所述的抛光靶材依次进行腐蚀处理、冲洗处理和吹干处理,完成钴靶材EBSD检测的制样。在本发明中,制样方法操作简单,能够实现对钴靶材的制样,样品表面光滑平坦,无明显划痕和过度腐蚀,保证所制样品用于EBSD检测时所得图像的清晰度,EBSD检测时标定率较高,可达90%,结果准确,适合推广。

主权项:1.一种钴靶材EBSD检测的制样方法,其特征在于,所述制样方法包括:1将钴靶材切割成钴靶块;2对步骤1所述的钴靶块依次进行第一研磨、第二研磨、第三研磨和抛光处理,得到抛光靶材;3对步骤2所述的抛光靶材依次进行腐蚀处理、冲洗处理和吹干处理,完成钴靶材EBSD检测的制样。

全文数据:

权利要求:

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