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申请/专利权人：中兴通讯股份有限公司
摘要：本发明实施例提供一种设备测试方法、设备及存储介质，属于设备测试领域。该方法包括：当触发认证测试套件XTS测试的情况下，确定与被测设备的adb连接是否异常；在确定与被测设备的adb连接异常的情况下，通过被测设备中预置的应用程序与被测设备的adb重新建立连接；在与adb连接且被测设备被恢复出厂设置的情况下，获取被测设备开机向导的各界面参数，并根据各界面参数生成各界面操作指令，将各界面操作指令发送至被测设备；在被测设备执行各界面操作指令完成开机向导的情况下，对被测设备进行XTS测试。本方案能够实现测试设备对被测设备进行自动化地测试，极大地提高了终端设备的XTS测试的效率和准确性。
主权项：1.一种设备测试方法，其特征在于，应用于测试设备，所述测试设备用于测试被测试设备，所述方法包括：当触发认证测试套件XTS测试的情况下，确定与被测设备的安卓调试桥adb连接是否异常；在确定与所述被测设备的adb连接异常的情况下，通过所述被测设备中预置的应用程序与所述被测设备的adb重新建立连接；在与所述adb连接且所述被测设备被恢复出厂设置的情况下，获取所述被测设备开机向导的各界面参数，并根据各所述界面参数生成各界面操作指令，将各所述界面操作指令发送至所述被测设备；在所述被测设备执行各所述界面操作指令完成开机向导的情况下，对所述被测设备进行XTS测试。
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百度查询： 中兴通讯股份有限公司 设备测试方法、设备及存储介质
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