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一种适用于多类型延迟线结构的ONFI PHY训练方法 

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申请/专利权人:博越微电子(江苏)有限公司

摘要:本发明公开了一种适用于多类型延迟线结构的ONFIPHY训练方法。本流程首先通过粗扫描确定可采样值的范围,利用长delayline固定步进获取粗采样窗口作为后续参考。随后,通过训练找到长delayline的最小值并对齐dq。过程中,使用短delayline调整dqskew,直至dq对齐或短delayline调节能力用尽。接着,将粗扫窗口中心值与最小值的平均值作为初始点,训练长delayline的最大值。最后,取最小值和最大值的平均值作为最终配置值,完成整个训练流程。通过本发明,能够同时执行寻找采样窗口和对齐dq的动作,增大数据窗口,提升训练的效果与效率。

主权项:1.一种适用于多类型延迟线结构的ONFIPHY训练方法,其特征在于,包括:S1:粗扫描获取可采样值,在长delayline上使用固定步进扫描获取粗采样窗口,取粗扫描窗口得到的配置作为后续流程的配置参考;S2:训练得到长delayline配置中的最小值并对齐dq;步骤a1:短delayline全部配置为0,长delayline使用粗扫窗口最小值作为初始点;步骤a2:执行预设训练指令比对数据,如果数据正确,长delayline减小预设单位并重复步骤2;如果数据出错且长delayline配置不为0则退出步骤a2,进行下一流程,此时表示delayline已经到达临界位置;如果delayline配置为0则退出步骤a2,表示长delayline已经最小;步骤a3:记录出错的dqbit位;如果所有dqbit位出错,表示dq已经对齐,skew降到最低并退出步骤3;如果短delayline有一组已经达到最大值,表示某个dq对应短delayline调节能力已经用完短delayline已满,无法继续降低dqskew,此时退出步骤3;否则出错的dq对应的短delayline增大预设单位,回到步骤a2;步骤a4:冻结此时的短delayline配置,表示dq已对齐,记录此时的长delayline为MIN,表示采样窗口下限;S3:取流程二得到的MIN和粗扫窗口中心值的平均值作为流程S4的初始点;S4:训练得到长delayline配置最大值;步骤b1:执行训练指令对比数据,数据正确则增大预设单位长delayline配置值,并循环执行训练指令对比数据,直至数据出错,进入步骤b2;步骤b2:记录此时的长delayline为MAX,表示采样窗口上限;S5:取流程S2得到的MIN和流程S4得到的MAX的平均值作为最终训练结果值,标记为最终配置值。

全文数据:

权利要求:

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