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偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法 

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申请/专利权人:株式会社LG化学

摘要:本申请涉及偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法,并且特征在于,从表面光源施加的光透射通过第一偏振构件并在偏光板处被反射,反射的光被施加至第二偏振构件,并基于透射通过第二偏振构件的光来确定偏光板中的液晶污点,其中所述偏光板按顺序包括偏振器和四分之一波片,所述四分之一波片包括液晶膜,以及透射通过第一偏振构件的光被施加至偏光板的四分之一波片。

主权项:1.一种偏光板的液晶污点检查装置,包括:表面光源,其中所述表面光源是具有均匀发光的表面且无厚度的光源;第一偏振构件,所述第一偏振构件布置成被施加来自所述表面光源的光;偏光板,所述偏光板布置成被施加透射通过所述第一偏振构件的光,并反射所施加的光;第二偏振构件,所述第二偏振构件布置成被施加从所述偏光板反射的光;和检查源,所述检查源布置成被施加透射通过所述第二偏振构件的光,并基于透射通过所述第二偏振构件的光来确定所述偏光板的液晶污点,其中所述偏光板顺序地包括偏振器和四分之一波片,所述四分之一波片包括液晶膜,以及透射通过所述第一偏振构件的光被施加至所述偏光板的所述四分之一波片,以及其中所述第一偏振构件具有与所述偏光板的所述偏振器垂直的吸收轴,以及其中所述第二偏振构件具有与所述偏光板的所述偏振器平行的吸收轴。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社LG化学 偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法

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