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一种防止SIP芯片低温测试中测试板水汽凝结的系统和方法 

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申请/专利权人:中国电子科技集团公司第五十八研究所

摘要:本发明涉及芯片低温测试技术领域,特别涉及一种防止SIP芯片低温测试中测试板水汽凝结的系统和方法。包括板卡支架和测试板,还包括:背部密封板,所述背部密封板的内部开设有中空密封腔,所述背部密封板的顶部密封抵接于所述测试板的背面上,且所述背部密封板和所述测试板均通过螺丝紧固于所述板卡支架上;出气孔,均匀开设于所述背部密封板的顶部,并与所述中空密封腔相连通;进气口和出气口,分别开设于所述中空密封腔的左右两侧壁上;露点检测仪,布设于所述中空密封腔内;空气干燥机,所述空气干燥机的输入端与气源相连通。本发明解决了SIP芯片测试低温测试过程中测试板底部存在水汽凝结,导致测试参数失效的问题。

主权项:1.一种防止SIP芯片低温测试中测试板背部水汽凝结的除湿系统,包括板卡支架1和测试板,其特征在于,还包括:背部密封板2,所述背部密封板2的内部开设有中空密封腔,所述背部密封板2的顶部密封抵接于所述测试板的背面上,且所述背部密封板2和所述测试板均通过螺丝紧固于所述板卡支架1上;出气孔3,均匀开设于所述背部密封板2的顶部,并与所述中空密封腔相连通;进气口4和出气口5,分别开设于所述中空密封腔的左右两侧壁上;露点检测仪6,布设于所述中空密封腔内;空气干燥机7,所述空气干燥机7的输入端与气源8相连通,输出端通过供气管路9与所述进气口4相连通;流量调节阀10,布设于所述供气管路9上;控制器11,分别与所述露点检测仪6、所述气源8、所述空气干燥机7和所述流量调节阀10电性相连。

全文数据:

权利要求:

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