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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明公开了一种马赫‑曾德尔电光调制器芯片频率响应测试装置及方法，属于光电子技术领域。本发明利用信号激励模块输出频率接近的双音正弦信号，经由探针加载到待测马赫‑曾德尔电光调制器芯片射频输入电极上，对光源送入待测马赫‑曾德尔电光调制器芯片的光载波进行调制，最终输出的光信号经由光电转换模块进行光电转换，然后被信号接收模块检测；根据检测信号的幅度和双音正弦信号的幅度，提取出待测马赫‑曾德尔电光调制器芯片在频率f处的调制系数和半波电压。
主权项：1.一种马赫-曾德尔电光调制器芯片频率响应测试装置，包括光源、待测马赫-曾德尔电光调制器芯片、光电转换模块、探针、信号激励模块、信号接收模块和控制与数据分析处理模块，所述光源、待测马赫-曾德尔电光调制器芯片、光电转换模块光端口依次进行光连接；所述信号激励模块与探针输入端进行电连接，探针输出端与待测马赫-曾德尔电光调制器芯片输入电极进行电连接，光电转换模块电输出端与信号接收模块进行电连接；所述控制与数据分析处理模块与信号激励模块、信号接收模块进行数据连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种马赫-曾德尔电光调制器芯片频率响应测试装置及方法
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