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申请/专利权人：俐玛光电科技(北京)有限公司
摘要：本发明提供了一种电子元器件缺陷识别方法，涉及图像识别技术领域，该方法包括：采集电子元器件的结构图像，并对结构图像进行降噪处理，得到降噪图像；通过图像分割技术将降噪图像划分为若干个分割图像；提取全部分割图像的显著点；分别计算分割图像中全部像素点的特征矩阵；通过神经网络模型得到全部特征矩阵的特征向量；计算特征向量的相似度，若计算结果未超过相似度阈值，则认为特征向量对应的结构图像内存在缺陷。该方法通过边缘检测技术提高了图像识别的精确度，并通过人工智能实现了自动化检测。
主权项：1.一种电子元器件缺陷识别方法，其特征在于，包括如下步骤：采集电子元器件的结构图像，并对所述结构图像进行降噪处理，得到降噪图像；通过图像分割技术将所述降噪图像划分为若干个分割图像；提取全部所述分割图像的显著点；分别计算所述分割图像中全部像素点的特征矩阵；通过神经网络模型得到全部所述特征矩阵的特征向量；计算所述特征向量的相似度，若计算结果未超过相似度阈值，则认为所述特征向量对应的所述结构图像内存在缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 俐玛光电科技(北京)有限公司 一种电子元器件缺陷识别方法
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