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温度传感器及调试系统 

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申请/专利权人:深圳市思远半导体有限公司

摘要:本申请公开了一种温度传感器及调试系统,涉及温度传感器技术领域。温度传感器包括温度计算模块、温度校准模块和调试控制模块。其中,温度计算模块和所述温度校准模块包括多个计算单元。调试控制模块用于控制所述温度传感器进入调试模式。在所述调试模式下,所述调试控制模块用于控制任意一个所述计算单元计算并输出对应的计算结果后暂停。在调试模式下,每个计算单元在得到计算结果之后暂停,并将得到的计算结果输出。在暂停期间,可以根据输出的计算结果确定对应的计算单元计算是否正确,以便追溯到底是哪个计算单元环节出错实现快速纠错,还可以根据输出的计算结果验证模型参数性能是否收敛,以便降低校准模型的收敛难度和校准时间。

主权项:1.一种温度传感器,其特征在于,包括:温度计算模块和温度校准模块,所述温度计算模块和所述温度校准模块包括多个计算单元;调试控制模块,用于控制所述温度传感器进入调试模式,在所述调试模式下,所述调试控制模块用于控制任意一个所述计算单元计算并输出对应的计算结果后暂停。

全文数据:

权利要求:

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