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申请/专利权人：昆山君治电子有限公司
摘要：本实用新型公开了一种用于半导体晶片的探针测试装置，包括底座，所述底座的上表面固定连接有导轨，所述调节装置的外表面固定连接有测试仪，所述测试仪的外表面固定连接有检测装置，本实用新型涉及探针测试技术领域。该装置新型通过设置调节装置，拉动转动杆，转动杆会带动移动杆上的锥形柱在配合块的内部滑动，当锥形柱从锥形槽的内壁抽出时，可使升降板在支撑板上的滑槽内滑动，将支撑板滑动至人员需要的位置后，松开转动杆，锥形柱对受到伸缩弹簧的弹力作用下，使锥形柱卡进支撑板上对应的锥形槽的内壁，定位杆使锥形柱进入到锥形槽内进行复位，从而完成了对于支撑板位置调节后的固定，达到了测试目的。
主权项：1.一种用于半导体晶片的探针测试装置，包括底座1，其特征在于：所述底座1的上表面固定连接有导轨2，所述导轨2的内表面滑动连接有移动架3，所述移动架3的外表面固定连接有滚珠31，所述滚珠31的外表面与导轨2的内表面滑动连接，所述导轨2的顶部设置有调节装置4，所述调节装置4的外表面与移动架3的外表面固定连接，所述调节装置4的外表面固定连接有测试仪5，所述测试仪5的外表面固定连接有检测装置6。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 昆山君治电子有限公司 一种用于半导体晶片的探针测试装置
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