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申请/专利权人：珠海博杰电子股份有限公司

摘要：本发明提供一种精密阻值测试治具以及精密阻值测试方法，本发明通过在与测试元件接触的测试单元设置设置至少两个同一规格且互不接触的一体式刚性针，以在测试时，升降驱动模组驱动下压块下降，下压块带动测试单元下降，使测试针组的两个一体式刚性针同时与测试元件的一导电端接触，并在两个一体式刚性针与测试元件的一导电端接触时，通过利用测试仪获得两个一体式刚性针的阻值a，并将该阻值a抵消通过两组测试针组与测试元件连接后获得的阻值b，从而实现能够精准地测试所述测试元件的抗阻，同时，在对所述精密阻值测试治具更换新的一体式刚性针后，也不会因一体式刚性针自身阻抗影响测试元件阻抗测试的精准度；本发明属于测试治具的技术领域。

主权项：1.一种精密阻值测试治具，其包括机座1和测试仪，所述机座1上设置有用于放置测试元件5的载具2，所述机座1上安装有升降驱动模组11，所述升降驱动模组11驱动有位于所述载具2上方的下压块12，其特征在于：所述下压块12安装有测试单元31，所述测试单元31设置有至少两组测试针组32，每一所述测试针组32均有至少两个用于同时与所述测试元件5的一导电端51接触的一体式刚性针33，同一测试针组32内的两个所述一体式刚性针33互不接触，每一所述一体式刚性针33均与所述测试仪电性连接，所述测试仪可用于将同时与所述测试元件5一导电端51接触的所述一体式刚性针33的阻值抵消两个所述测试针组32与所述测试元件5接触所获的阻值；所述测试单元31包括探针固定块41和元件固定块42，所述探针固定块41固定于所述下压块12，所述一体式刚性针33固定于所述探针固定块41上并活动地穿过所述元件固定块42，所述元件固定块42安装有活动地穿过所述下压块12的下压导柱43；所述元件固定块42与所述下压块12之间设置有缓冲弹簧44；所述机座1安装有下压滑轨13，所述下压块12安装有与所述下压滑轨13配合的下压滑块14；所述机座1安装有用于驱动所述载具2移离所述下压块12下方的出料驱动模组21；所述机座1安装有出料滑轨22，所述载具2安装有与所述出料滑轨22配合的出料滑块23；所述载具2设有定位孔24，所述下压块12安装有可进入所述定位孔24内的定位柱15。

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