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申请/专利权人：上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司
摘要：本发明涉及EDA技术领域，特别是涉及一种过滤条件覆盖率中毛刺的方法、电子设备及存储介质，其通过在编译阶段为每个原始逻辑判断块插入探针，在过程描述块的最后一个代码行之后插入N个过滤单元；其中第i个过滤单元用于计算累计覆盖数据和当前执行过程描述块时第i个探针收集的条件覆盖数据之间的按位或，得到新的累计覆盖数据；并在下一个时钟周期，将累计覆盖数据更新为新的累计覆盖数据。通过该方法在不改变原始文件的基础上达到消除毛刺的目的，解决条件覆盖数据虚高的问题，提高了条件覆盖率数据的准确性。
主权项：1.一种过滤条件覆盖率中毛刺的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S200，在编译阶段，获取源代码的过程描述块中的N个原始逻辑判断块；S400，为每个原始逻辑判断块插入探针，其中为第i个原始逻辑判断块插入第i个探针的步骤包括，其中i的取值范围为1到N：S420，获取第i个原始逻辑判断块中的条件expri；S440，将expri拆分为M个基本的子条件；S460，构建第i个探针proi，proi用于收集满足每个子条件的覆盖数据；S480，将proi插入第i个逻辑判断块之前，proi的执行顺序先于第i个逻辑判断块；S600，在过程描述块的最后一个代码行之后插入N个过滤单元；其中第i个过滤单元包括用于计算累计覆盖数据condi和当前执行过程描述块中proi收集的条件覆盖数据glitchi之间的按位或，得到新的累计覆盖数据；并在下一个时钟周期，将condi更新为新的累计覆盖数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海合见工业软件集团有限公司 成都融见软件科技有限公司 一种过滤条件覆盖率中毛刺的方法、电子设备及存储介质
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