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平行面检测系统和方法 

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申请/专利权人:嘉兴聚速电子技术有限公司;北京川速微波科技有限公司

摘要:本发明实施例提供平行面检测系统和方法,所述系统包括:第一平面,设置有第一检测区和第一反射镜,第二平面,设置有第二检测区和第二反射镜,面激光器,设置于第一平面和第二平面之间,分别向第一平面和第二平面发出第一激光和第二激光,第一激光和第二激光在一条直线上,当第一激光在第一检测区的位置与第二反射镜反射的光束在第一平面的位置重合,且第二激光在第二检测区的位置与第一反射镜反射的光束在第二平面的位置重合时,判定第一平面与第二平面平行且中心对准。本发明提高了平行面检测的结果准确度和一致性。

主权项:1.一种平行面检测系统,其特征在于,包括:第一平面,其上设置有第一检测区和第一反射镜;第二平面,其上设置有第二检测区和第二反射镜;面激光器,设置于所述第一平面和第二平面之间,所述面激光器朝向所述第一平面发出第一激光,所述面激光器朝向第二平面发出第二激光,所述第一激光和所述第二激光的光轴在一条直线上;所述第一激光照射在所述第一检测区,所述第二激光照射在所述第二反射镜,所述第二反射镜将光束反射在所述第一平面;所述第二激光照射在所述第二检测区,所述第一激光照射在所述第一反射镜,所述第一反射镜将光束反射在所述第二平面;当所述第一激光在所述第一检测区的位置与所述第二反射镜反射的光束在所述第一平面的位置重合,且所述第二激光在所述第二检测区的位置与所述第一反射镜反射的光束在所述第二平面的位置重合时,判定所述第一平面与所述第二平面平行且中心对准。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 嘉兴聚速电子技术有限公司 北京川速微波科技有限公司 平行面检测系统和方法

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