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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
摘要：本发明提供基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质，涉及一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法，包括：给定芯片区域，获取给定芯片区域内的器件列表；在器件列表中选取一个初始待测器件，作为当前样本；选取新待测器件；将新待测器件更新为当前样本，重复选取新待测器件的步骤直至获得足够数量的待测器件，完成待测器件的筛选。本申请从完整的器件列表中选取出的待测器件和完整器件列表服从相同的多维联合概率分布，能充分体现完整器件列表的原始统计特性，更好地满足器件筛选过程的需求。
主权项：1.一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法，其特征在于，包括：给定芯片区域，获取所述给定芯片区域内的器件列表；其中，所述器件列表包括多个器件，以及所述器件的多维度属性信息；在所述器件列表中选取一个初始待测器件，作为当前样本；选取新待测器件：按顺序选择所述器件列表中的至少一个维度作为当前维度，并对所述当前样本剩余维度的属性值进行固定，得到所述当前维度的属性值的条件概率分布；基于所述条件概率分布，确定所述当前维度的属性值，并与固定的剩余维度的属性值一起确定的器件，作为选取的新待测器件；将新待测器件更新为当前样本，重复所述选取新待测器件的步骤直至获得足够数量的待测器件，完成待测器件的筛选。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质
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