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申请/专利权人：北京辉羲智能科技有限公司

摘要：本发明涉及一种基于insystemtestpattern的芯片加速老化测试系统，使用insystemtestpattern对包含BIST功能芯片进行老化测试；包括sever端和至少一个client端；所述sever端包括PC，所述PC运行群控软件、存储insystemtestpattern，所述群控软件用于将insystemtestpattern发送至一个或多个client端并监控分析；所述client端包括网络接口、嵌入式CPU、FPGA、电源管理模块、温度控制模块、若干包含BIST功能芯片的老化板；所述嵌入式CPU与FPGA数据交互，传递insystemtestpattern及FPGA控制信号、老化板回传信号；所述嵌入式CPU与温度控制模块数据交互、传递用于温度控制信号，所述嵌入式CPU与电源管理模块数据交互、传递电源控制信号。有益效果是不受老化机台产能限制，老化效果好、成本低。

主权项：1.一种基于insystemtestpattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：包括sever端和至少一个client端；所述sever端包括PC，所述PC运行群控软件、存储insystemtestpattern，所述群控软件用于将insystemtestpattern发送至一个或多个client端并监控分析；所述client端包括网络接口、嵌入式CPU、FPGA、电源管理模块、温度控制模块、若干包含BIST功能芯片的老化板；所述网络接口和所述PC通过网络连接通信，与所述嵌入式CPU数据交互；所述嵌入式CPU与FPGA数据交互，传递insystemtestpattern及FPGA控制信号、老化板回传信号，所述FPGA用于将接收到的insystemtestpattern及FPGA控制信号完成并串转换以jtag或ijtag接口输出给老化板、并通过jtag或ijtag接口接收老化板回传信号；所述嵌入式CPU与温度控制模块数据交互、传递用于温度控制信号，所述嵌入式CPU与电源管理模块数据交互、传递电源控制信号，所述温度控制模块用于对老化板提供老化测试环境，所述电源管理模块用于对老化板提供电源。

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百度查询： 北京辉羲智能科技有限公司 一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统