申请/专利权人：潍坊华光光电子有限公司

申请日：2024-01-09

公开（公告）日：2024-05-03

公开（公告）号：CN117969995A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01M11/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开

摘要：本发明公开了一种半导体激光器老化考评测试系统及其应用，涉及半导体激光器制备技术领域，具体包括高温试验箱、半导体激光器治具、半导体激光器驱动仪、温度采集器和上位机。采用高温烘烤箱对半导体激光器进行环境加温，同时通过半导体激光器老化考评测试系统的电源及电源控制部分给半导体激光器提供电流进行模拟工作，设定自动老化测试系统定时进行一次自动测试，测试结果自动存储进数据库。该半导体激光器老化考评测试系统及其应用，实现自动测试，自动采集半导体激光器驱动电流、激光器背光电流、环境温度，经过上位机数据处理系统可以直接出数据采集表，提高半导体激光器老化考评测试的自动化程度，提高工作效率，减少人为干预。

主权项：1.一种半导体激光器老化考评测试系统，包括高温试验箱、半导体激光器治具、半导体激光器驱动仪、温度采集器和上位机，其特征在于：所述高温试验箱为半导体激光器老化考评测试提供高温环境，所述高温试验箱对测试的半导体激光器进行环境加热；所述半导体激光器驱动仪与上位机相连，所述半导体激光器驱动仪通过半导体激光器治具与半导体激光器相连，控制半导体激光器的电流加载，且半导体激光器驱动仪通过高温导线进行驱动电流的控制及背光电流的读取，并将采集到的数据上传到上位机；所述半导体激光器驱动仪包括一个寄存器、八个单片机和八个半导体激光器控制单元，所述单片机进行数据采集工作，并传输至寄存器，寄存器定期通过单片机传输的数据进行数据存储；且单个半导体激光器驱动仪通过八个单片机控制64路半导体激光器控制单元，从而实现64路半导体激光器的电流加载的功能实现；所述温度采集器配置温度探头，用于探测半导体激光器治具上的温度，所述温度采集器与上位机连接，能够通过控制指令传输采集到的环境温度信息；所述上位机用于提供人机交互界面，为半导体激光器老化考评测试系统的软件系统提供硬件环境；所述软件系统使用三层UI界面结构，同时使用多线程进行线程控制，以实现软件运行时候不造成UI界面崩溃，实现同时多台半导体激光器驱动仪的参数设定及运行操作，并实现测试数据存储；所述软件系统包括一个主线程和三个子线程；所述主线程来进行UI界面的操作，主要用于检测新增半导体激光器驱动仪的开机状态，并填写测试参数；所述三个子线程分别为状态监测子线程、PIV子线程和ACC子线程，状态监测子线程通过主线程调用，主要用于检测新增半导体激光器驱动仪的状态刷新及参数设定；所述PIV子线程通过状态监控子流程进行调用，主要用于检测半导体激光器受试样品的测试计划中是否需要运行PIV测试；所述ACC子线程通过状态监控子流程进行调用，主要用于检测半导体激光器受试样品的测试计划中是否需要运行ACC测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 潍坊华光光电子有限公司 一种半导体激光器老化考评测试系统及其应用

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