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申请/专利权人：国合通用测试评价认证股份公司;国标(北京)检验认证有限公司
申请日：2021-07-06
公开（公告）日：2024-05-24
公开（公告）号：CN113514534B
主分类号：G01N27/68
分类号：G01N27/68;G01N1/28
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.24#授权;2021.11.05#实质审查的生效;2021.10.19#公开
摘要：本发明涉及一种应用辉光放电质谱分析小尺寸导电和非导电材料的方法，属于材料分析领域。该方法先将石墨粉置于铝杯中，轻轻振荡铝杯，使石墨粉表面平整；将小尺寸导电材料或非导电材料置于石墨粉上；盖上数层硫酸纸；用压片机压紧，制成测试样品；进行直流辉光放电质谱分析。采用本发明的分析方法，无需研磨、无需烧结、无需加热，前处理简单，避免了污染；避免了以金属作为导电介质时，不能测定该金属元素的问题，及由该金属元素形成的质谱干扰；缩短了分析时间，提高了分析效率；能适合屑状、颗粒状、粉末状等小尺寸导电材料以及细颗粒状、粉末状非导电材料的分析，普适性强，应用范围广；具有很好的放电稳定性、分析重复性、分析准确性。
主权项：1.一种应用辉光放电质谱分析小尺寸导电材料和非导电材料的方法，包括如下步骤：（1）将石墨粉置于铝杯中，轻轻振荡铝杯，使石墨粉表面平整；所述石墨粉的纯度大于等于99.9999wt%；铝杯中加入石墨粉的厚度为2-8mm；（2）将小尺寸导电材料或非导电材料置于石墨粉上；所述的小尺寸导电材料或非导电材料的样品尺寸小于辉光放电质谱仪溅射斑点尺寸，形状为颗粒状、屑状或粉末状；所述小尺寸导电材料是指颗粒状或屑状金属材料；小尺寸非导电材料是指氧化物粉末；小尺寸导电材料在石墨粉上排列尽量紧凑，石墨粉上待分析导电材料的尺寸覆盖辉光放电质谱仪溅射斑点尺寸；石墨粉上小尺寸非导电材料的尺寸小于辉光放电质谱仪溅射斑点尺寸，直径为4~6mm，厚度为0.1-1mm；（3）盖上数层硫酸纸；（4）用压片机压紧，制成测试样品；（5）进行直流辉光放电质谱分析；对于导电材料而言，石墨粉只起到一个样品托的作用；对于非导电材料而言，石墨粉不仅仅是样品托，更需要借助于石墨粉的导电性来放电。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 国合通用测试评价认证股份公司;国标(北京)检验认证有限公司 应用辉光放电质谱分析小尺寸导电和非导电材料的方法
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