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申请/专利权人：中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
申请日：2024-01-25
公开（公告）日：2024-06-04
公开（公告）号：CN118131006A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G06F30/398
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.21#实质审查的生效;2024.06.04#公开
摘要：本申请公开了一种ATPG测试向量的精简方法和装置、存储介质、电子装置。其中，该方法包括：从故障列表中取出未进行自动测试向量生成的目标故障，若向量缓存中不存在N个第一测试立方即合并后生成的不兼容的测试立方则采用无约束的单故障测试生成方式为目标故障生成第二测试立方，若存在则按照单故障测试生成方式为目标故障生成符合第一约束的第二测试立方，将生成的第二测试立方与N个第一测试立方合并后写入向量缓存中，实现了基于公共约束的精简测试向量生成，减少了ATPG生成的无效向量，提高了测试向量生成的成功率以及向量质量，可以解决测试向量的生成效率较低的技术问题，总体在更短的时间内生成了质量更高的测试向量。
主权项：1.一种ATPG测试向量的精简方法，其特征在于，包括：从故障列表中取出目标故障，其中，所述故障列表中保存有目标芯片的需要进行测试的多个故障，所述目标故障是未进行自动测试向量生成的故障；在向量缓存中不存在N个第一测试立方的情况下，采用无约束的单故障测试生成方式为所述目标故障生成第二测试立方，其中，所述N个第一测试立方为经过合并后生成的、不兼容的测试立方，N位预先设置的大于2的整数；在所述向量缓存中存在N个第一测试立方的情况下，按照单故障测试生成方式为所述目标故障生成符合第一约束的第二测试立方，其中，所述第一约束是根据所述N个第一测试立方生成的、用于避免生成的测试立方进入所述N个第一测试立方的冲突空间；将生成的第二测试立方与所述N个第一测试立方合并后写入所述向量缓存中。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司 ATPG测试向量的精简方法和装置、存储介质、电子装置
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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