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申请/专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日：2024-03-22
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118157672A
主分类号：H03M1/10
分类号：H03M1/10;H03M1/12
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本申请提供了一种时间交织ADC的失调失配校准方法及相关设备，本申请提供的时间交织ADC的失调失配校准系统应用于包括有多个ADC通道的时间交织ADC中，会根据随机数序列对时间交织ADC的输入信号进行信号调制以得到失调失配检测值。其中，随机数序列基于预设随机斩波电路生成，其预设随机斩波电路与时间交织ADC中的采样保持电路采用正反连接的方式进行连接，这样的连接方式能够在原始的输入信号的基础上通过随机数序列生成一个随机的极性反转，以在数字域内平均掉由于模拟电路失配而导致的误差，从而提升对于时间交织ADC中失调失配的校准准确率。
主权项：1.一种时间交织ADC的失调失配校准系统，其特征在于，应用于包括多个ADC通道的时间交织ADC中；所述系统包括：第一获取模块、信号调制模块以及校准模块；所述第一获取模块，用于获取时间交织ADC的输入信号；所述信号调制模块，用于基于所述时间交织ADC的输入信号和随机数序列，确定失调失配检测值；所述随机数序列基于预设随机斩波电路生成；所述预设随机斩波电路与所述时间交织ADC的采样保持电路采用正反连接的方式相连；所述校准模块，用于基于所述多个ADC通道的输出信号与所述失调失配检测值，对所述多个ADC通道进行失调失配校准，得到经过校准后的输出信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院微电子研究所 一种时间交织ADC的失调失配校准方法及相关设备
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