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申请/专利权人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司
申请日：2024-01-22
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150976A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R35/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本发明提供一种多工位测试需求的ATE测试资源扩展方法，S1、确定测试参数执行子板site测试；S2、设置基于子板site的第一扩展site，且所述第一扩展site还具有如下设置:向其序号递进位置分别设置第2‑第n扩展site；S3、设置子板site与第一扩展site的校准通道，设置任意所述扩展site之间的校准通道；S4、执行校准通道的校准测试。本发明通过加入校准测试，可以将site主板通过扩展接口进行测试，而不需要直接连接至测试母板，提高测试性能和可扩展性，并且通过校准测试能够实现被测件的准确测试结果。
主权项：1.一种针对多工位测试需求的ATE测试资源的扩展方法，包括如下步骤：S1、确定测试参数执行子板site测试；S2、设置基于子板site的第一扩展site，且所述第一扩展site还具有如下设置:向其序号递进位置分别设置第2-第n扩展site；S3、设置子板site与第一扩展site的校准通道，设置任意所述扩展site之间的校准通道；S4、执行校准通道的校准测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 针对多工位测试需求的ATE测试资源的扩展方法
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