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申请/专利权人：CMR外科有限公司
申请日：2017-07-19
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN113607193B
主分类号：G01D5/244
分类号：G01D5/244;G01D5/245;G01D5/249;G01D5/14;G01D5/20;G01D18/00;G01B7/00;A61B34/30
优先权：["20160722 GB 1612766.4"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.07#授权;2021.11.23#实质审查的生效;2021.11.05#公开
摘要：一种对来自位置感测装置的位置读数进行校正的方法。位置感测装置适于感测铰接结构的转动关节的位置，其包括：具有包括磁极对的磁环的盘、包括用于检测磁环的磁极对的磁传感器阵列的磁传感器组件，方法包括：针对磁环的每个磁极对，利用磁传感器阵列取得校准磁极对位置读数，并且通过比较校准磁极对位置读数和模型磁极对位置读数来生成磁极对校正函数；针对磁环的每个磁极对，通过从校准磁极对位置读数中减去磁极对校正函数来生成经校正的校准磁极对位置读数；通过比较针对磁环的经校正的校准磁极对位置读数和模型转动位置读数来生成转动校正函数；利用磁传感器阵列取得位置读数；以及通过从位置读数中减去转动校正函数来生成经校正的位置读数。
主权项：1.一种对来自位置感测装置的位置读数进行校正的方法，所述位置感测装置适于感测铰接结构的转动关节的位置，所述位置感测装置包括具有磁环的盘以及磁传感器组件，所述磁环具有磁极对，所述磁传感器组件包括用于对所述磁环的所述磁极对进行检测的磁传感器阵列，所述方法包括以下步骤：针对所述磁环的每个磁极对，利用所述磁传感器阵列取得校准磁极对位置读数，并且通过将所述校准磁极对位置读数与模型磁极对位置读数进行比较来生成磁极对校正函数；针对所述磁环的每个磁极对，通过从所述校准磁极对位置读数中减去所述磁极对校正函数来生成经校正的校准磁极对位置读数；通过将针对所述磁环的所述经校正的校准磁极对位置读数与模型转动位置读数进行比较来生成转动校正函数；利用所述磁传感器阵列取得位置读数；以及通过以下操作来生成经校正的位置读数：从所述位置读数中减去所述转动校正函数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： CMR外科有限公司 对来自位置感测装置的位置读数进行校正的方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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