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申请/专利权人：上海大学
申请日：2024-02-26
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118151846A
主分类号：G06F3/06
分类号：G06F3/06
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本发明公开提供了一种基于DQS恢复时钟的多Die封装NandFlash的读数据方法，包括以下步骤：将读DQS信号和经IDELAY延迟的DQ信号作为数据输入串并转换单元ISEREDES；确保各个Die读DQS信号频率相同，在FPGA内部生成时钟对DQS进行采样，通过遍历采样时钟的不同相位来确定读取各个Die时采样时钟的最佳相位；对FPGA输出至各个Die的RE信号进行延时调整，使各个Die共享同一个读数据采样时钟；调整IDELAY抽头系数，以确定在读取各个Die时各DQ信号的最佳延时。本发明的一种基于DQS恢复时钟的多Die封装NandFlash的读数据方法，有效提高读数据通道的IO速率，同时使时序更容易收敛；节约时钟资源并且降低带宽损失；能够降低亚稳态发生的概率，提高传输的可靠性。
主权项：1.一种基于DQS恢复时钟的多Die封装NandFlash的读数据方法，其特征在于，其系统结构包括以下模块：DQS信号作为数据输入串并转换单元ISERDES的数据端口；DQ经过延迟单元后输入转换单元ISERDES，经过转换单元ISERDES转换后的DQ和DQS写入异步FIFO，进行跨时域转换；通过训练状态机从异步FIFO中读取数据用于训练，且所述训练状态机控制生成并行RE信号，输入并串转换单元OSERDES后再经过延迟单元ODELAY后，输出至NandFlash。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海大学 一种基于DQS恢复时钟的多Die封装Nand Flash的读数据方法
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